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    產品名稱:

    OLYMPUS奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡

    產品類別:
    OLYMPUS奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像,是地質學家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究,都得益于穩定的顯微鏡系統性和精密的光學系統。
    用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡
    采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡單而快捷??梢郧逦貙购蠼蛊矫娴母缮鎴D樣。勃氏鏡的視場光闌使其能夠始終獲取
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    OLYMPUS奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡

    OLYMPUS奧林巴斯BX53P偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像,是地質學家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究,都得益于穩定的顯微鏡系統性和精密的光學系統。

    用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡

    采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡單而快捷??梢郧逦貙购蠼蛊矫娴母缮鎴D樣。勃氏鏡的視場光闌使其能夠始終獲取銳利而清晰的錐光圖像。

    無應力光學元件

    UPLFLN-P無應力物鏡得益于奧林巴斯*的設計和制造技術,將內部應力降到了zui低。這就意味著更高的EF值,從而可以得到的圖像反差。

    種類豐富的補色器和波長板

    提供了六種不同的補色器,用于測量巖石和礦物薄片的雙折射。測量光程差水平范圍從0到20λ。針對更方便的測量和高圖像反差, 可以使用B e r e k 和Senarmont補色器,它們能在整個視場內改變光程差級別。

    各種補償板的延遲測量范圍

    補償板

    測量范圍

    主要用途

    U-CTB厚型Berek

    0-11,000nm

    較大的延遲測量(R*>3λ)。(結晶、高分子、纖維、光彈性失真等)

    U-CBE Berek

    0-1,640nm

    延遲測量(結晶、高分子、纖維、生物體組織等)

    U-CSE Senarmont

    0-546nm

    延遲測量(結晶、生物體組織等)對比度增強(生物體組織等)

    U-CBR1 Brace-Kohler 1/10λ

    0-55nm

    微小延遲測量(結晶、生物體組織等)
    對比度增強(生物體組織等

    U-CBR2 Brace-Kohler 1/30λ

    0-20nm

    U-CWE2 石英楔子

    500-2,200nm

    延遲的近似測量(結晶、高分子等)

    *R表示延遲。
    為提高測量精度,建議與干涉濾鏡45IF546一起使用。(U-CWE2除外)

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